......... Elektronová mikroskopie pro biology .........
© 2001 < Jana Nebesářová >
........Kapitola 2.3 - Vady elektromagnetických čoček 

Obsah:

Trocha historie...
Proč elektrony?
Transmisní
     elektronový
     mikroskop (TEM)
Příprava preparátů
     pro TEM chemickou
     cestou
Příprava preprátů
     pro TEM fyzikálními
     metodami
Další metody přípravy
     prepárátů pro TEM
Skanovací elektronový
     mikroskop (SEM)
Příprava preparátů
     pro SEM
Počítače a elektronová
     mikroskopie
Protokoly
Literatura
Autoři
Odkazy
Hl. stránka
Zavřít

Vady elektromagnetických čoček

Stejně jako skleněné čočky, i elektromagnetické čočky vykazují stejné vady. Je to jeden z hlavních důvodů, proč se v praxi nedosahuje teoretické rozlišovací schopnosti.
Sférická vada - je neschopnost čočky zaostřovat všechny paprsky vycházející z bodového zdroje opět do jednoho bodu. Elektrony, procházející vnější částí čočky jsou zaostřovány do bodu, který leží blíž k čočce, než elektrony, které procházejí čočkou v těsné blízkosti optické osy (obr. 1). Praktickým důsledkem této vady je, že zvětšení v krajích obrazu je jiné než v jeho středu (obr. 2) Velikost sférické vady je závislá na ohniskové vzdálenosti čočky, a je tím větší, čím větší je tato vzdálenost. Omezuje se odstraněním okrajových paprsků pomocí clony.
Chromatická vada - vzniká v důsledku rozdílných energií elektronů ve svazku. Pomalejší elektrony s větší vlnovou délkou jsou v magnetickém poli cívek vychylovány jinak a protínají osu cívky v jiném bodě, než elektrony s vyšší rychlostí. Snížení chromatické vady je možné docílit zlepšením koherentnosti a monochromatičnosti elektronového svazku, čehož lze dosáhnout maximální stabilizací urychlovacího napětí mikroskopu. Odstranit zcela tuto vadu nelze, neboť ke změnám energie elektronů dochází při samotné interakci elektronů s preparátem a výrazně se tato vada projevuje v případě silnějších řezů.
Osový astigmatismus - je způsobený nesymetrií magnetického pole. V důsledku toho elektrony procházející čočkou v různých rovinách, mají různé ohnisko (obr. 3). Nejčastějším zdrojem astigmatismus jsou nečistoty na vnitřních plochách mikroskopu - pólových nástavcích čoček, clonách apod. Nečistoty, které jsou většinou elektricky nevodivé, se nabíjejí a svým rušivým elektrickým polem způsobují změny v drahách elektronů. Astigmatismus se v mikroskopu koriguje magnetickým polem stigmátoru, jehož nastavení se koriguje v případě SEM i několikrát denně. Dokonalá korekce je při větších zvětšeních v TEM nutnou podmínkou k získání uspokojivých výsledků.


 Předchozí Další  

Literatura

Obrázky

Obr1- Vznik sférické vady, kdy paprsky procházející okrajem čočky a jejím středem se lámou do různých ohnisek;B-omezení sférické vady vložením clony
Zpět
Obr2 - Deformace obrazu působením sférické vady; A-nezkreslený obraz, B-poduškovité zkreslení, C-soudkovité zkreslení
Zpět
Obr3 - Astigmatismus čočky se projevuje protažením obrazu objektu do jednoho směru podfokusem -A- a do kolmého směru nad fokusem -B. Po korekci stigmátorem se objekt rozostřuje rovnoměrně-C
Zpět

       Desing by NebeNet © 2001 < Jana Nebesářová >